一、引言
在工业和高精度应用中,噪声的严格控制至关重要。尽管运算放大器(Op Amp)的数据手册通常提供典型的噪声值,但这些数值仅代表设备群体的平均值,并不能保证每个设备的噪声不会超过某一特定值。因此,对于每个设备进行快速的噪声测试是必不可少的,尤其是在对噪声要求较高的应用中。
通常,运算放大器的噪声测试需要测量1/f噪声(也称为闪烁噪声),这通常是在0.1 Hz到10 Hz的频段进行。这类测试往往需要较长时间,且测试结果可能并不适用于所有系统或应用。为了减少测试时间,本文介绍了一种通过现有理论和实测数据来快速测试1/f噪声的技术。
二、噪声的理论与描述
运算放大器的噪声密度曲线包括两个主要区域:
- 宽带噪声区:在高频段,噪声与频率无关,表现为白噪声。
- 1/f噪声区:在低频段,噪声随频率呈1/f下降,通常在较低的频率范围内占主导地位。
1/f噪声的测量通常比宽带噪声要慢,因为低频信号的周期较长,测量需要更多的时间。运算放大器的噪声可以通过对噪声功率谱密度进行积分来计算。噪声的单位是V/√Hz,表示每单位频带上的电压噪声密度。
三、噪声计算方法
运算放大器的总RMS噪声由宽带噪声和1/f噪声的RMS值组合而成,公式如下:
其中,(E_{\text{BB}}) 是宽带噪声,(E_{\text{1/f}}) 是1/f噪声。数据手册中,1/f噪声通常以峰峰值的形式在一定频率范围内给出,而宽带噪声则通常以某一特定频率下的电压噪声密度给出。
对于1/f噪声,积分公式如下:
其中, 是已知的1 Hz时的标准噪声密度, 和 分别是噪声积分的上限和下限频率。
四、噪声测试中的问题与挑战
在噪声敏感的应用中,选择噪声最小的运算放大器对保持系统精度至关重要。对于宽带噪声,测试时间相对较短,因为高频信号的周期较短,可以在几毫秒内完成测试。然而,1/f噪声的测试则需要更长的时间,可能需要几秒钟到几分钟不等,这主要取决于带宽和平均化的程度。
1/f噪声的测试通常通过快速傅里叶变换(FFT)进行,但分辨率带宽的要求可能导致测试时间过长。因此,如何快速、准确地估算1/f噪声成为解决这一问题的关键。
五、快速估算1/f噪声的方法
一种简便的解决方案是通过公式快速外推1/f噪声。根据公式,1/f噪声的积分与频率比的自然对数成比例。因此,只要选定两个频率范围,便可以快速计算1/f噪声的RMS值。
例如,假设已知1 Hz时的标准噪声密度,计算1 Hz到10 Hz以及10 Hz到100 Hz这两个频段的1/f噪声RMS值,两个频段的计算结果相同,表明只要频率比相同,噪声估算结果是准确的。通过这种方法,可以将1/f噪声的测试范围从0.1 Hz到10 Hz缩小到10 Hz到1 kHz,从而节省了大量的测试时间。对于CMOS放大器而言,节省的时间尤为显著,因为其转角频率较高。
六、结论
通过外推技术,能够快速、准确地估算1/f噪声,前提是所有频率范围位于1/f噪声主导区,且所选带宽与角频率远离。此方法在许多经典的半导体运算放大器中表现良好,但对于斩波型或自动归零型放大器(如OPA2188)等没有1/f噪声区的器件则不适用。
通过这种方法,噪声测试时间能够减少100倍甚至更多,从而显著降低生产成本,并加速产品上市时间。